本申請涉及存儲領域，特別是涉及一種存儲器件的測試方法及測試設備。
背景技術：
1、隨著科技的進步，存儲技術也在不斷的發(fā)展與創(chuàng)新。由于計算機的普及和互聯(lián)網(wǎng)的更新?lián)Q代，存儲技術也變得越來越重要。為了滿足用戶生活和工作上的需求，存儲技術變得越來越高效、可靠、安全。在存儲裝置的研發(fā)過程中，測試是必不可少的重要環(huán)節(jié)。在對存儲裝置例如閃存等進行測試時可以采用ate設備進行測試，然而隨著閃存容量的日益增大，測試的時間越來越長，利用ate設備使得測試成本大大增加。于是為了降低成本，通常使用主機、主控加閃存的測試方式。主要的測試流程為主機下發(fā)測試固件給主控，主控在自身內存中運行固件并對所連接的閃存進行測試。測試過程中產(chǎn)生的信息主控再回傳給主機。但這種方法首先需要主機具有發(fā)送固件的能力，其次主機與主控之間的連接由于需要進行數(shù)據(jù)傳輸，其最大連接數(shù)量具有一定的限制，影響測試效率。
技術實現(xiàn)思路
1、本申請主要目的是提供一種存儲器件的測試方法及測試設備，能夠提高存儲裝置測試的測試效率。
2、為解決上述技術問題，本申請采用的第一個技術方案是：提供一種存儲器件的測試方法。該方法包括主控芯片響應于主機端的上電操作，與待測存儲器件建立通信連接或與待測存儲器件和目標存儲器件建立通信連接；主控芯片從待測存儲器件的第一指定地址獲取測試固件和/或從目標存儲器件直接獲取測試固件；主控芯片利用測試固件對待測存儲器件進行測試。
3、為解決上述技術問題，本申請采用的第二個技術方案是：提供一種測試設備。該測試設備包括主控芯片以及測試接口，主控芯片通過測試接口連接待測存儲器件以實現(xiàn)第一個技術方案中所述的方法。
4、為解決上述技術問題，本申請采用的第三個技術方案是：提供一種測試設備，該測試設備包括控制器以及測試接口，測試接口用于連接待測存儲裝置，待測存儲裝置包括主控芯片以及待測存儲器件，控制器通過測試接口連接待測存儲裝置以進行上下電操作，實現(xiàn)第一個技術方案中所述的方法。
5、本申請的有益效果是：通過將測試固件放置于需要進行測試的存儲器件中或目標存儲器件中，使得在主控芯片上電之后，主控與存儲器件建立通信連接，能夠從待測存儲器件中讀取測試固件或直接從目標存儲器件中讀取測試固件，而后將測試固件放置于自身內存中運行，依照該測試固件對存儲裝置進行測試。主控不再需要主機端發(fā)送測試固件，而是從存儲器件中直接獲取，僅需要主機端控制主控芯片和存儲器件上電，主控芯片即可自行完成后續(xù)測試。僅需要實現(xiàn)上電的連接方式相比需要進行數(shù)據(jù)傳輸?shù)倪B接方式，其連接方式更為簡單，并且不再受到連接數(shù)量的限制，能夠增加主機端連接的主控芯片數(shù)量，提高存儲器件的測試效率。
1.一種存儲器件的測試方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根據(jù)權利要求1所述的方法，其特征在于，所述主控芯片利用所述測試固件對所述待測存儲器件進行測試之后，包括：
3.根據(jù)權利要求2所述的方法，其特征在于，所述測試結束指令為通過指定管腳發(fā)送的預設電平信號。
4.根據(jù)權利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一指定地址為所述主控芯片上電時默認讀取的所述待測存儲器件中的存儲地址。
5.根據(jù)權利要求1所述的方法，其特征在于，所述主控芯片利用所述測試固件對所述待測存儲器件進行測試之后，包括：
6.根據(jù)權利要求5所述的方法，其特征在于，所述第二指定地址中還存儲有所述測試結果的備份數(shù)據(jù)。
7.根據(jù)權利要求5所述的方法，其特征在于，所述第二指定地址中還存儲有驗證信息，所述驗證信息基于所述測試結果得到以用于驗證所述測試結果是否完整正確。
8.根據(jù)權利要求1-7中任一項所述的方法，其特征在于，所述主控芯片和所述待測存儲器件封裝于一存儲裝置中。
9.一種測試設備，其特征在于，所述設備包括主控芯片以及測試接口，所述主控芯片通過所述測試接口連接待測存儲器件以實現(xiàn)如權利要求1-8中任一項所述的存儲器件的測試方法。
10.一種測試設備，其特征在于，所述設備包括控制器以及測試接口，所述測試接口用于連接待測存儲裝置，所述待測存儲裝置包括主控芯片以及待測存儲器件，所述控制器通過所述測試接口連接所述待測存儲裝置以進行上下電操作，實現(xiàn)如權利要求1-8中任一項所述的存儲器件的測試方法。